Електронний архів Полтавського університету економіки і торгівлі >
Навчально-науковий інститут денної освіти >
Кафедра економічної кібернетики, бізнес-економіки та інформаційних систем >
Матеріали конференцій (ННІДО ЕКБІС) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/11260

Название: Vlasenko V. A. Methodical approach to the formation of the mechanism of crisis management at the enterprise in the conditions of transformation processes. Механізми забезпечення розвитку економіки в умовах глобальних змін : міжнародний досвід : матеріали Міжнародної наукової конференції (м. Рига, Латвія, 4-5 червня 2021 р.). Riga : ISMA University of Applied Sciences, 2021. 435 p. P. 183-189.
Авторы: Vlasenko, Valentyn Anatoliyovych
Ключевые слова: crisis
the crisis processes
the crisis phenomena
financial crisis
the plan of anti-crisis measures
anti-crisis development program at the enterprise
anti-crisis process
the formation of an effective mechanism for crisis management at the enterprise
Дата публикации: 30-Июн-2021
Аннотация: The proposed sequence of formation of an effective mechanism of anti-crisis management will contribute to the implementation of anti-crisis program of enterprise development, strengthening its competitive advantages to overcome the effects of the economic crisis and enter a new trajectory of economic growth. The main way of survival of the enterprise in such conditions is anti-crisis management, which should be based on timely diagnosis of the level and causes of the crisis and the implementation of adequate anti-crisis development programs.
URI: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/11260
Располагается в коллекциях:Матеріали конференцій (ННІДО ЕКБІС)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Власенко В.А._тези (Полтава, Україна).doc60 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь