Електронний архів Полтавського університету економіки і торгівлі >
Навчально-науковий інститут денної освіти >
Кафедра міжнародної економіки та міжнародних економічних відносин >
Статті (ННІДО МЕМЕВ) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/14762

Название: Analysis of the World Tourism Market in the pre and post Covid Periods Covid-19
Авторы: Flehantova, Anna
Ключевые слова: Analysis
Covid-19
World Tourism Market
Дата публикации: 2024
Аннотация: This study conducts a comprehensive regression analysis of the world tourism market, focusing on the pre-quarantine and post-quarantine periods. Utilizing a robust dataset spanning several years, we assess the impact of the COVID-19 pandemic on global tourism trends, examining key indicators such as tourist arrivals, revenue, and market dynamics. By employing multiple regression models, we identify signifi cant factors infl uencing tourism patt erns before and after quarantine measures were implemented. Our fi ndings reveal marked shifts in tourist behavior, destination preferences, and industry resilience, highlighting the pandemic’s profound eff ects on the tourism sector. The results provide critical insights for policymakers and industry stakeholders, emphasizing the need for adaptive strategies to navigate post-pandemic recovery and future market disruptions. This study contributes to the growing body of literature on tourism economics and off ers valuable perspectives for enhancing the sustainability and robustness of the global tourism market.
URI: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/14762
ISSN: 2956-6673
Располагается в коллекциях:Статті (ННІДО МЕМЕВ)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Analysis of the World Tourism Market in the pre and post Covid Periods Covid-19 _Anna_Flehantova.pdf884,57 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь