Електронний архів Полтавського університету економіки і торгівлі >
Навчально-науковий інститут денної освіти >
Кафедра бухгалтерського обліку і аудиту >
Матеріали конференцій (ННІДО БОА) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/5788

Название: Криза загального методу наукового пізнання
Авторы: Деньга, Світлана Миколаївна
Ключевые слова: методологія
діалектика
наукове пізнання
науковий підхід
сенсуалізм
раціоналізм
Дата публикации: Май-2017
Издатель: ВНЗУ "ПУЕТ"
Библиографическое описание: Бухгалтерський облік в управлінні підприємством: проблеми теорії та практики : збірник тез доповідей ІІ Міжнародної науково-прак-тичної інтернет-конференції (м. Полтава, 11–12 травня 2017 року). – Полтава : ПУЕТ, 2017. – 219 с. – C. 195-198.- Режим доступу: http://bovup-poltava.forumotion.me/t34-topic
Аннотация: Основним недоліком всезагального наукового методу є те, що діалектика намагається з’ясувати зміст найзагальніших понять, залишаючись у сфері самих понять (визначаючи поняття через його протилежність), реальна дійсність не береться нею до уваги, що приводить до висновків, неадекватних дійсності. Тому діалектичний метод плідний на завершальному етапі пізнання, коли зміст понять уже більш-менш сформований і потрібно лише показати їх взаємозалежність, взаємоперехід, рух. А для формування первісного змісту понять діалектиці не вистачає необхідних засобів. Таким чином, застосовуючи діалектичний метод, не можна зробити евристичне відкриття в науці, не можна застосувати до дослідження новий науковий підхід. Даний метод сприяє лише певному удосконаленню і систематизації уже отриманих раніше знань.
URI: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/5788
Располагается в коллекциях:Матеріали конференцій (ННІДО БОА)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
ПУЕТ.конф.doc46,5 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь