Електронний архів Полтавського університету економіки і торгівлі >
Навчально-науковий інститут денної освіти >
Кафедра економічної кібернетики, бізнес-економіки та інформаційних систем >
Статті (ННІДО ЕКБІС) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/6398

Название: Фінансові ризики залучення транснаціонального банківсьго капіталу
Авторы: Дроботя, Я. А.
Дата публикации: 16-Ноя-2017
Библиографическое описание: Дзюблюк О. Іноземний капітал у банківській системі України: вплив на розвиток валютного ринку та діяльність банків / Олександр Дзюблюк, Ольга Владимир // Вісник НБУ. – 2014. – травень. – С. 26–33. Дмитренко М. Г. Вплив іноземного капіталу на розвиток бан-ківського сектору України / М. Г. Дмитренко, Ю. В. Жежерун // Фінансовий простір. – 2015. – № 2(18). – С. 14–21. Дурицька Г. В. Сучасні тенденції транснаціоналізації та їхній вплив на економіку України / Г. В. Дурицька // Вісник Університету банківської Справи НБУ. – 2013. – № 2(17). – С. 39–45. Кулай А. В. Роль транснаціональних банків у формуванні ринку банківських послуг ЄС / А. В. Кулай // Збірник наукових праць «Економічні науки». – Серія «Облік і фінанси». – 2014. – Випуск 11 (41). – Ч. 3. – С. 105–121. Осадчий Є. С. Банки з іноземним капіталом на ринку України: проблеми та перспективи розвитку / Є. С. Осадчий // Стратегія економічного розвитку України. – 2013. – № 33. – С. 94–102. Пилипенко Л. М. Іноземний капітал у банківській системі України як чинник впливу на фінансову безпеку держави : дис. на здобуття ступеня канд. екон. наук. за спец. 21.04.01. – економічна безпека держави / Л. М. Пилипенко. – Київ : 2016. – 209 с.
URI: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/6398
Располагается в коллекциях:Статті (ННІДО ЕКБІС)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
2017.docx19,3 kBMicrosoft Word XMLПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь