Електронний архів Полтавського університету економіки і торгівлі >
Навчально-науковий інститут денної освіти >
Кафедра педагогіки та суспільних наук >
Статті (ННІДО ПСН) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/9144

Название: ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ЯКОСТІ ПІДГОТОВКИ ВИКЛАДАЧА ВИЩОЇ ШКОЛИ ДО ФОРМУВАННЯ ПРОФЕСІЙНОЇ КОМПЕТЕНТНОСТІ МАЙБУТНІХ ФАХІВЦІВ У ТЕХНІЧНОМУ КОЛЕДЖІ
Авторы: Сойка, Володимир
Ключевые слова: технічний коледж, викладач вищої школи, процес навчання, майбутні фахівці, професійна компетентність, якість професійної підготовки.
Дата публикации: 2020
Издатель: ПНПУ імені В. Г. Короленка
Библиографическое описание: Дидаскал : часопис : матеріали Міжнародної науково-практичної конференції «Забезпечення якості вищої освіти в Україні: сучасний стан і перспективи», 12-13 листопада 2019 р. / Кафедра загальної педагогіки та андрагогіки ПНПУ імені В. Г. Короленка. – Полтава, 2020. – № 20. – 312 с. – С. 79–82.
Аннотация: Показано, що для забезпечення якості професійної підготовки викладача вищої школи до формування фахової компетентності майбутніх молодших спеціалістів у технічному коледжі слід активно використовувати досліджені науковцями критерії і показники рівнів професійної компетентності.
Описание: У статті зроблено висновок, що критерії оцінювання є вихідним моментом для визначення рівнів готовності викладача вищої школи до формування фахової компетентності майбутніх молодших спеціалістів і сприяють реалізації механізму контролю знань, умінь, навичок і професійних якостей викладачів вищої школи. Доцільними виявилися такі види контролю знань: попередній, поточний, тематичний і підсумковий.
URI: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/9144
Располагается в коллекциях:Статті (ННІДО ПСН)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Сойка_Тези.docx22,66 kBMicrosoft Word XMLПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь